반도체 검사 장비

MPC 반도체 검사 장비는 CMOS 이미지 센서를위한 완전 자동 방향 건식 먼지 제거 시스템입니다. 초 고해상도 카메라가 장착되어있어 초경량 입자 이물질을 식별하고 먼지 고착 메커니즘을 안내하여 고정밀 방향 먼지 제거를 수행합니다. 기판/센서에서 700nm보다 큰 외래 물질을 제거 할 수 있습니다. 기계에는 고속 서보 모듈이 장착되어 있습니다. 단일/이중 스테이션은 생산 능력에 따라 선택할 수 있습니다. 최대 생산 능력은 5000pcs/h보다 큽니다. 보고서를 출력하고지도 다이어그램을 생성 할 수 있습니다. 동시에 데이터를 고객의 MES 시스템에 업로드 할 수 있습니다.

부분적 탐지 및 청소, DB 감지

● 반도체 (광학 모듈, 웨이퍼)

● 반도체 포장 및 테스트 산업 (센서, IR 필터, IC 테스트, 지문 모듈)

MPC 반도체 검사 장비는 생산 효율을 크게 향상시키고 수율을 높이고 전통적인 수동 샘플링을 교체 할 수 있으며 특히 고 부가가치 제품의 배치 제조에 적합합니다. 보다 효율적인 솔루션이 필요한 경우 Huizhou Zhongke Advanced Manufacturing Co., Ltd.

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● Detection Accuracy: >0.6μm

● Floating Dust Removal Rate: >99.9%